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AOI機器視覺行業(yè)先行者
半導體
半導體

隨著科技的發(fā)展,工業(yè)領域不斷在進步,在半導體行業(yè)中,機器視覺的應用已非常普遍,應用范圍也越來越廣,涉及到半導體外觀缺陷、尺寸大小、數(shù)量、平整度、間隔、定位、校準、焊點質(zhì)量、彎曲度等等的檢測和測量,根據(jù)圖像數(shù)據(jù)判斷找出缺陷產(chǎn)品

康耐德智能IC元器件字符噴印缺陷視覺檢測

康耐德智能IC元器件字符噴印缺陷視覺檢測系統(tǒng)是一種基于機器視覺技術的檢測方案,主要用于檢測電子IC元器件上字符噴印的各種缺陷

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康耐德智能識別PCB混料視覺檢測系統(tǒng)

康耐德智能的PCB混料視覺檢測系統(tǒng)結(jié)合字符識別與輪廓識別技術,通過高精度硬件配置和智能算法,實現(xiàn)對PCB板元件的精準檢測,避免混料問題。

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康耐德智能半導體芯片視覺定位測量aoi系統(tǒng)

康耐德智能的半導體芯片視覺定位測量AOI系統(tǒng)結(jié)合了高精度光學檢測、機器視覺算法與自動化控制技術,專注于提升電子制造的芯片定位的精度,實現(xiàn)了對晶片大小、質(zhì)心點位置、旋轉(zhuǎn)角度以及 MARK 點位置等的準確測量。

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康耐德智能晶圓表面臟污及劃痕缺陷視覺檢測系統(tǒng)

 晶圓缺陷視覺檢測是半導體制造過程中的關鍵環(huán)節(jié),它能夠確保晶圓的良品率和生產(chǎn)效率。目前,機器視覺算法結(jié)合晶圓缺陷檢測方法因其普適性強、速度快而廣泛應用于工業(yè)檢測中。

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半導體晶片機器視覺測量及MARK點視覺定位--康耐德智能

對樣品進行了光學實驗,并進行圖像處理,原則上可以使用機器視覺進行測試測量與定位。

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載帶IC方向判斷機器視覺系統(tǒng)軟硬件方案--康耐德智能

·  可以自動判斷其中是否有IC或判斷其中的IC是否上下反轉(zhuǎn)
·  可以自動判斷正放的IC的水平方向是否正確

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IC引腳位置度、金手指缺陷檢測視覺系統(tǒng)定制方案

可以檢測出金手指斷裂以及IC引腳位置度,具體還要以實際樣品缺陷為準,拍攝時產(chǎn)品必須要保持水平。

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